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Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods
A. Howie (auth.), A. Howie, U. Valdrè (eds.)
Publisher:
Springer US
Year:
1989
ISBN:
9781461595397
9781461595373
Edition:
1
价格
¥15
限时折扣价:¥
9.90
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8.48 MiB
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